• Prof. Dr. Carlos Eugenio Macchi

    • IFIMAT and CIFICEN (UNCPBA-CICPBA-CONICET), Pinto 399, Tandil, Argentina
    • Consejo Nacional de Investigaciones Científicas y Técnicas (CONICET), Argentina
    • Comisión de Investigaciones Científicas de la Provincia de Buenos Aires, Argentina

La espectroscopía de aniquilación de positrones (PAS) ha demostrado ser una poderosa herramienta para el estudio de defectos en sólidos ya que posee características únicas debido a su alta sensibilidad para detectar defectos de tamaño atómico/nanométrico tales como vacancias, aglomerados de vacancias o voids. Asimismo, PAS posibilita identificar y caracterizar cada uno de los defectos mencionados. Específicamente, en materiales tales como los óxidos metálicos semiconductores que tienen una amplia variedad de aplicaciones tecnológicas entre los que se destacan los sensores de estado sólido de gases, las celdas combustibles y los dispositivos optoelectrónicos los positrones pueden brindar, además, información acerca del estado de carga de los defectos.

Existen diferentes variantes experimentales de PAS que se utilizan para estudiar óxidos semiconductores: i) la espectrometría temporal positrónica que permite identificar y cuantificar los distintos tipos de defectos así como su estado de carga; y ii) la espectroscopía de ensanchamiento Doppler que brinda información no solo sobre los defectos sino, también, sobre las especies atómicas que decoran los defectos (i.e.; entornos químicos).

En esta charla se introducirán aspectos básicos de la espectroscopía de aniquilación de positrones y se brindarán algunos ejemplos de las potencialidades de PAS para el estudio y caracterización de defectos en óxidos metálicos semiconductores tales como el ZnO o el SnO 2 que hemos llevado a cabo en nuestro Grupo; asimismo se presentarán primeros resultados obtenidos acerca del estudio de defectos en sistemas nanoestructurados base-CeO 2 que se llevan adelante en colaboración con el CDMF/LIEC.