Pesquisadores do CDMF publicam revisão internacional sobre engenharia de defeitos em semicondutores à base de prata
Pesquisadores vinculados ao CDMF participaram de uma colaboração internacional que resultou na publicação do artigo de revisão “Defect Engineering in Silver-Based Bimetallic Semiconductors: Recent Advances and Future Perspective” no periódico ACS Omega. A revista, de […]
