Ciclo Semanal de seminários do CCMC com Wagner Correr

Measurement principle of AFM, KPM, EFM, and MFM

On this third technical talk we will discuss some techniques on Scannig Probe Microscopy that can be hanful in characterisation of ceramics. Topography and roughness are routinely measured using Atomic Force Microscopy (AFM), nevertheless electric and magnetic properties can also be measured using several less known and equally useful techniques. We will discuss the measurement principle of AFM, KPM, EFM, and MFM, including examples from the published literature.

Seminarista: Wagner Rafael Correr

Data e horário: Dia 19/05/2016, quinta feira, das 10h às 11h

Local: Sala 14, Prédio Administrativo do IFSC (embaixo do anfiteatro Prof. Sérgio Mascarenhas)

Amanda Murgo
Sobre Amanda Murgo 134 Artigos
Educadora do Laboratório de Difusão Científica (LaDiC) do Grupo Crescimento de Cristais e Materiais Cerâmicos (CCMC/IFSC/USP) no âmbito das ações de Difusão Científica do CDMF. Assessora de Comunicação do CCMC/LaDiC/CDMF desde 2010. Bacharel em Filosofia pela Universidade Federal de São Carlos com estágio no Projeto "História da Ciência e Meio Ambiente - as demandas por energia através da História" (CCMC/IFSC/USP/CDMF) de abril de 2013 a julho de 2014. Atua ministrando cursos de Educação Ambiental em escolas de Rede Básica de Ensino e Educadores com a temática pelo CDMF até os dias atuais.